GCSTD-D 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀器

滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容

率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質(zhì)）的交流損耗特性和介電常數(shù)

的測(cè)試方法

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀器試驗(yàn)方法：

接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電極類(lèi)型：固定電極-測(cè)量電極φ38mm／φ50mm（標(biāo)配電極1套，標(biāo)配為38mm）

液體電極-液體容量15ml

粉體電極-根據(jù)樣品量可配專(zhuān)用電極

試樣類(lèi)型：固體、液體、粉體、膏體／規(guī)則物或者不規(guī)則物

性能特點(diǎn)：

測(cè)試頻率20H2～2MHz，10mHz步進(jìn)

測(cè)試電平10mV～5V，1mV步進(jìn)

基本準(zhǔn)確度0.1％

最高達(dá)200次／s的測(cè)量速度

320x240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示

五位讀數(shù)分辨率

可測(cè)量22種阻抗參數(shù)組合

四種信號(hào)源輸出阻抗

10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

內(nèi)部自帶直流偏置源

外置偏流源至40A（配置兩臺(tái)TH1776）（選件）

電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整（ALC）功能

V、1測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

圖形掃描分析功能

20組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存／讀取

內(nèi)建比較器，10檔分選及計(jì)數(shù)功能

多種通訊接口方便用戶(hù)聯(lián)機(jī)使用

2m／4m測(cè)試電纜擴(kuò)展（選件）

中英文可選操作界面

可通過(guò)USB HOST 自動(dòng)升級(jí)儀器工作程序

測(cè)試材料：

無(wú)源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件

等的陽(yáng)抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

其它元件：印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估

介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性